1. 

:n tarkat kemialliset koostumukset (massa%), 0 ja 0,12 yttriumia, vastaavasti HX ja HXa, ja vastaavasti on esitetty taulukossa 1. Nämä kaksinäytettä rakennettiin 45 × 45 × 45 mm:n kuution muotoon käyttämällä EOS M290 SLM -laitetta (EOS, Robert-sirling-ring 1, 82152, KRAILLING, BAVARIA, Saksa) Suoja-AR-ilmapiiri, jossa käytetään pre \\ -kappaleen jauheita ja samoja käsittelyparametreja. Teimme standardin lämpökäsittelyä sekä HX- että HX:n yksilöille. Liuos lämpökäsittely (ST) suoritettiin 1177 ◦C 2 h, mitä seurasi jäähdytys ilmassa huoneenlämpötilaan----

 Poista creep testi, me viipaloitu kuutio useisiin laatat, joiden paksuus on 3,1 mm; Näistä laattoista Creep Test -näytteet leikattiin käyttäen Electrodiscarcal-johdon leikkauskonetta. Kunkinnäytteen mittari mitat olivat 19,6 × 2,8 × 3,0 mm. Teimme Creep-testin alle 900 ◦C

, jota seuraa timantti liittää jopa kolloidisen piidioksidin (0,5 um) käyttäen Struers (Ballerup, Tanska) automaattinen kiillotus koneella. Kaikkinäytteet pestiin sitten etanolilla ultraäänihaudassa 10 minuutin ajan. Etsimmenäytteitä, joissa oli 20% fosforihappo80% vesiliuosta havaitun sulan altaan rajojen tarkkailemiseksi. Mikrorakenteen havainnointi toteutettiin käyttämällä optista mikroskooppia (OM; Olympus Corp. Tokio, Japani), pyyhkäisyelektronimikroskoopilla (SEM, Hitachi, Ltd., Tokio, Japani), energia-dispersive spektroskopialla (EDS) (S/3700N tyyppi EDS valmistamien laitteiden Horiba Seisakusho Co., Ltd., Kioto, Japani), ja kentän päästöjen elektronimikroskoopilla (FE#SEM) (MMM+7100, JEOL, Tokio, Japani) kiinnitettynä EDS (EDAXAMETEX 9424). Kuva J ohjelmisto (64--bittisistä Java 1.8.0_172) käytettiin analysoimaan crack osa ja huokoisuus mittauksia.----

 3.

Results 3.1.

Microstructure Observation 3.1.1.

GoogleBuilt Näytteet -Figure 1 esittää HX ja HXa yksilöt optiset mikrorakenteet kuin

a yksilöt ovat 1% ja 5%, vastaavasti.-----

F igure 2 esittää SEM- kutenbuilt yksilö. Alemmalla suurennoksella kaikkinäytteet osoittivat sulan altaan rajoja ja kiinteytysrakenteita, kuten viljan rajoja ja dendriittejä (kuvio 2A, B HX: lle ja kuviossa 2C, D HX: lle). Kuvio 2B esittää halkeamia suuremmalla suurennoksella HX-näyteessä. Molemmissanäytteissä halkeamat muodostuivat viljan rajasta ja ilmestyivät keskialueilla.

--

Yritämme suoritettiin EDS kartoitus skannaa halkeamia HX ja HXa yksilöitä. EDS-analyysi paljasti SIC-karbidit ja W6C-muodostuminen HX-näyteessä (kuvio 3A). HX a yksilö, EDS kartoitus halkeaman osoitti muodostumista YC (kuvio 3b).

--

Figure 4 esittää EDS kartoitus HXa kuin built yksilö, joka osoittaa, että on olemassa pieni Y oksidi (yttriumoksidilla) ja Si-oksidi (piidioksidi) hiukkasia jyvän sisään. Electron takaisinsironnan diffraktio (EBSD) kristallografinen suuntautuminen kartat sekä yksilöiden että kunbuilt tila (kuvio 5) paljasti kuitumaisten rakeiden suunnattu lähes yhdensuuntaisesti rakennuksen suuntaan. HX-näyteessä jotkut jyvät suuntautuvat suuntaan ja jotkut ovat suunnassa (kuvio 5a). Toisaalta, jyvät HXanäyte ovat hieman pienempiä ja enimmäkseen suunnattu suuntaan (kuvio 5b)

.----